崔长彩

崔长彩 2023-03-08

个人简介:

崔长彩,女,1972年生,博士,教授,博士生导师,山东青岛人。

2003年哈尔滨工业大学获得博士学位后,加盟华侨大学。2010年破格定为教授,2011年聘为博士生导师。入选2010年教育部新世纪优秀人才支持计划,2014年度厦门市引进重点人才,2014年度第二批泉州市高级人才,2017年入选首批全国万名优秀创新创业导师人才库,2020年度认定为福建省引进人才第二层次人选。科技部创新团队成员(排名2)、福建省五四奖章集体(排名2)。主持参与科研项目累计20余项。发表学术论文150余篇,SCI收录66篇,授权发明专利24件,实用新型32件(截止到202337日,有权),软件著作权9项。培养博士硕士研究生40余人。获得2020年度福建省技术发明奖一等奖1项(3/5)。荣获2022年度中国产学研合作促进会产学研合作创新与促进奖(个人)。

国家自然科学基金通信评议专家;中国博士后科学基金评审专家;国家留学基金委出国留学评审专家;福建省教育厅出国留学奖学金评审组专家;浙江省自然基金通信评议专家;黑龙江省自然基金通信评议专家;福建省学位论文通信评审专家。中国仪器仪表学会——测量与控制专业委员会常务委员;中国计量测试学会——计量仪器专业委员会委员;中国仪器仪表学会——青年工作委员会委员;全国互换性与测量技术研究会理事;中国仪器仪表学会——微纳米器件与技术分会理事;福建省自动化学会、厦门市自动化学会理事;厦门市仪器仪表学会常务理事;厦门市测试计量学会,理事,副秘书长。《光学精密工程》、《Measurement》审稿人。

 

主要任职:

制造工程研究院副院长;

华侨大学第十届学术委员会委员;

2021年当选中国共产党泉州市第十三次代表大会代表

 

研究方向:

机械测试理论、方法与技术;

半导体薄膜光电特性及几何特征测量方法与表征;

超硬磨料磨具形貌测量和表征;

机器人加工中的测试和控制技术;

现代智能优化算法原理及应用 。

 

学习工作经历:

19929-19967月,黑龙江省佳木斯大学,机械工程学院,机械制造工艺与设备专业,攻读学士学位,以优秀毕业生留校任教;

19967-19989月,黑龙江省佳木斯大学,机械工程学院,机械工程系,公差与测试教研室,教师;

19989-20003月,哈尔滨工业大学,电气工程与自动化学院,自动化测试与控制系,精密仪器及机械学科,攻读硕士学位,导师车仁生;

20003-20036月,哈尔滨工业大学,电气工程与自动化学院,自动化测试与控制系,仪器科学与技术学科,攻读博士学位,导师车仁生;

200311-20144月,华侨大学,机电及自动化学院,测控技术及仪器系,2005年破格副教授、2010年破格教授,历任系副主任、系主任;

20154-至今,华侨大学,制造工程研究院,教授,20194月起任副院长。

期间:

200512-20097月,华中科技大学,机械学院,机械工程从事博士后研究,合作导师蒋向前;

20117-20127月,英国哈德斯菲尔德大学,精密技术中心访问学者,合作导师蒋向前;

20151-8月,国家自然科学基金委,兼聘教授。

 

主持或参加的科研项目:

[1] 2023.01-2026.12,第三代半导体晶圆衬底超精密加工非晶损伤层厚度高精度无损测量和表征 (52275531) ,直接经费54万元(项目负责人,半导体晶圆衬底精密测量)

[2] 2019.01-2022.12,国家自然科学基金促进海峡两岸科技合作联合基金资助项目,复杂形状石材制品省材高效加工关键技术基础研究 (U1805251) ,直接经费227万元(项目负责人,机器人石材高效加工,合作单位台湾大学)

[3] 2015.01-2018.12, 国家自然科学基金面上项目,基于光学显微层析成像垂直扫描原理的金刚石砂轮表面形貌在位测量与分析方法研究(51475176),80万元(项目负责人,金刚石工具精密测量)

[4] 2011.01-2013.12, 国家自然科学基金面上项目,金刚石砂轮表面形貌垂直扫描白光干涉测量和识别理论及个性化砂轮形貌评定参数体系的构建(51075160),30万元(项目负责人,金刚石工具精密测量)

[5] 2013.01-2017.12, 国家自然科学基金重点项目, 磨粒切厚分布特征约束的单层超硬磨料工具高效精密磨削基础研究(51235004)(主要参与人,项目负责人徐西鹏)

[6] 2019.01-2021.12,国家自然科学基金青年科学基金项目,基于金属腔中表面等离子激元共振效应的纳米孔阵列加工基础研究(51805176)(主要参与人,项目负责人温秋玲)

 

主要论著与学术论文(分区参考2022中科院最新排名分区表):

[1] Subiao Bian, Xipeng Xu, Changcai Cui*, Arteaga Oriol. Calibration of achromatic Fresnel rhombs with an elliptical retarder model in Mueller matrix ellipsometers, Thin Solid Films, 2022763(1):139581 (DOI: 10.1016/j.tsf.2022.139581) (SCI三区)

[2] Ziqing Li, Changcai Cui *, Jing Lu, Xiaolong Zhou, Subiao Bian, Arteaga Oriol Xipeng Xu. Characterization of amorphous carbon films from 5 nm to 200 nm on single-side polished a-plane sapphire substrates by spectroscopic ellipsometry, Frontiers in physics, 2022, 10:968101. (DOI:10.3389/fphy.2022.968101 ) (SCI三区)

[3]Wanpei Yu, Changcai Cui *, Huihui Li, Subiao Bian, Xi Chen. FDTD-Based Study on Equivalent Medium Approximation Model of Surface Roughness for Thin Films Characterization Using Spectroscopic Ellipsometry, Photonics, 2022, 9(9):621. (DOI:10.3390/photonics9090621) (SCI三区)

[4]Liyuan Ma, Xipeng Xu, Changcai Cui*, Jingyi Lu. Automated screening of COVID-19 using two-dimensional variational mode decomposition and locally linear embedding, Biomedical Signal Processing and Control, 2022, 78(16):103889. (DOI:10.1016/j.bspc.2022.103889) (SCI二区)

[5]Huihui Li, Changcai Cui *, Jing Lu, Zhongwei Hu, Wuqing Lin, Subiao Bian, Xipeng Xu. Mueller matrix ellipsometric characterization of nanoscale subsurface damage of 4H-SiC wafers: from Grinding to CMP, Frontiers in physics, 2022, 820637(1-10) (DOI:10.3389/fphy.2021.820637) (SCI三区)

[6] Subiao Bian, Changcai Cui*, Arteaga Oriol. Mueller matrix ellipsometer based on discrete-angle rotating Fresnel rhomb compensators, Applied Optics, 2021, 60(16): 4964-4971 (DOI:10.1364/AO.425899 ) (SCI四区)

[7] Huihui Li, Changcai Cui *, Subiao Bian, Jing Lu, Xipeng Xu, Arteaga Oriol. Double-sided and single-sided polished 6H-SiC wafers with subsurface damage layer studied by Mueller matrix ellipsometry, Journal of Applied Physics, 2020, 128(23): 235304(1-12).( DOI:10.1063/5.0026124) (SCI三区)

[8] Huihui LiChangcai Cui*, Xipeng XuSubiao BianChanisorn NgaojampaPipat RuankhamAtchara Punya Jaroenjittchai. A review of characterization of perovskite film in solar cells by spectroscopic ellipsometry, Solar Energy, 2020, 212: 48-61. (DOI:10.1016/j.solener.2020.10.066) (SCI二区)

[9] Junying Chen, Changcai Cui*, Guoqin Huang, Hui Huang, Xipeng Xu. A new strategy for measuring the grain height uniformity of a grinding wheel, Measurement, 2020,151:107250(1-12) (DOI:10.1016/j.measurement.2019.107250 ) (SCI二区)

[10] Huihui LiChangcai Cui*, Subiao BianJing LuXipeng XuOriol Arteaga. Model-free determination of the birefringence and dichroism in c-cut crystals from transmission ellipsometry measurementsApplied Optics, 202059(7): 2192-2200 (DOI:10.1364/AO.386583) (SCI四区)

[11] Junying Chen, Changcai Cui*, Guoqin Huang, Hui Huang, Xipeng Xu. Characterization of grain geometrical features for monolayer brazed grinding wheels based on grain cross-sectionsThe International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 2019, 105(1-4): 1425–1436 (DOI:10.1007/s00170-019-04354-1 ) (SCI三区)

[12] Changcai Cui*Zhenyu LiYuzhi ZhangYin Wang. Linear Piezoelectric Motor for Topography Detector of Diamond Wire, IEEE Access, 2019, 7166975- 166983. (DOI:10.1109/ACCESS.2019.2953124 ) SCI三区)

[13] 崔长彩*,王克贤,黄国钦,黄辉. 单层钎焊金刚石砂轮表面磨粒全场快速测量,中国机械工程,201930(14):1639-1645 (EI)

[14] 李振宇,崔长彩*,黄辉,徐西鹏.基于轮廓法的金刚石线锯整周三维表面形貌测量和评价, 机械工程学报,201955(20): 107-115 (EI)

 

指导学生获奖情况:

指导2018级博士生李慧慧获得2022年华侨大学研究生承志英才优秀学位论文。

 

联系方式:QQ: 545457387

联系电话:18695682866

电子邮箱:cuichc@hqu.edu.cn

制造工程研究院:https://ime.hqu.edu.cn/

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